ВАШЕ СВИДЕТЕЛЬСТВО
О ПУБЛИКАЦИИ В СМИ И РЕЦЕНЗИЯ
бесплатно за 1 минуту
Добавить материал
Количество Ваших материалов: 0.
Авторское
свидетельство о публикации в СМИ
добавьте 1 материал
Свидетельство
о создании электронного портфолио
добавьте 5 материала
Секретный
подарок
добавьте 10 материалов
Грамота за
информатизацию образования
добавьте 12 материалов
Рецензия
на любой материал бесплатно
добавьте 15 материалов
Видеоуроки
по быстрому созданию эффектных презентаций
добавьте 17 материалов
Ольга Ремидовская свидетельство о публикации рецензия
‘видетельство о публикации скачивание доступно только автору
Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"
Файл:

Презентация комплекса НАНОЭДЬЮКАТОР II.ppt - Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"


Все файлы публикации > Презентация комплекса НАНОЭДЬЮКАТОР II.ppt
Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Муниципальное бюджетное общеобразовательное учреждение
Комсомольского муниципального района Хабаровского края
средняя общеобразовательная школа № 2
сельского поселения «Село Хурба»
Методический совет
01.10.2013 г.

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

14 февраля 2013 г.
приступает
к
университетом
Министерство образования и науки Хабаровского края совместно с
краевым институтом развития образования и Тихоокеанским
государственным
реализации
регионального инновационного образовательного проекта «Изучение
наномира — шаг в будущее»
Проект предполагает принципиальное изменение подходов изучения
естественнонаучного цикла школьных предметов (физика, химия,
биология, информатика) путем использования нанотехнологий.
Проект будет реализован на базе шести общеобразовательных
учреждений Хабаровского края. Это лицей «Ступени» и школа № 12
Хабаровска, лицей № 1 Комсомольска­на­Амуре, школа поселка
Хурба Комсомольского района, школа № 2 Амурска и школа № 4
поселка Чегдомын Верхнебуреинского района, имеющие статус
краевых инновационных комплексов.
Пресс­служба минобрнауки Хабаровского края

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

25 сентября 2013 г.
Для того, чтобы заинтересовать школьников изучением биологии,
математики, химии, физики и информатики, в образовательный
процесс планируется включить нанотехнологии.
Одним из нововведений для школьников станет работа на
наноэдьюкаторе­II — учебном сканирующем зондовом микроскопе.
С его помощью школьники смогут вести научно­исследовательскую
деятельность, результаты которой будут представлены не только на
всероссийских, но и на международных конкурсах.
Сопровождать работу школьников будут ученые ТОГУ, они же
будут проводить мероприятия по повышению квалификации и
организовывать практические семинары для педагогов.
Краевой информационно­образовательный проект рассчитан на
школьников 6­11 классов и будет реализовываться в течение трех
лет. Результатом инновационного проекта послужит участие
школьников на олимпиадах и конкурсах по дисциплинам
естественнонаучного цикла.
Пресс­служба минобрнауки Хабаровского края

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Нано не возникло на пустом месте.
Нано возникло следствие НТП и закономерное следствие
развития человечества.
Если в XVIII­XIX в. человечество изучало просторы
(поверхность) Земли, т.е изучало двумерное пространство
(х; у), то после запуска спутника мы научились изучать
третье измерение (z). Четвертое измерение связано с теми
процессами, которые протекают в этих трёх измерениях –
это время.
Нано – это пятое измерение, это область знаний и умений
(технологий), связанных со структурой материи.

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Наном трее
(русское обозначение: нм; международное: nm) — дольная единица
измерения длины в Международной системе единиц (СИ), равная одной
миллиардной части метра.
Нанометр часто ассоциируется с областью нанотехнологий и с длиной волны
видимого света. Это одна из наиболее часто используемых единиц измерения
малых длин. Нанометр также наиболее часто используется в описании
технологий полупроводникового производства.
Нанометр равен 10 ангстремам.
Сравнительные характеристики нанометра
Длины волны видимого света, воспринимаемого человеком, лежат в диапазоне
380—760 нм (соответственно цвет такого излучения изменяется в диапазоне от
фиолетового до красного).
Расстояние между атомами углерода в алмазе равно 0,154 нм.
Данные на компакт­дисках записываются в виде углублений (по­английски
такое углубление называются pit), имеющих размеры: 100 нм глубины и 500 нм
ширины.
Современные передовые технологии производства микросхем оперируют с
элементами размером 22—45 нм, переходят на элементы 14 нм[1] и планируют
уменьшить их в будущем до 5 нм.

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

ОПТИЧЕСКИЕ ДИСКИ
Оптические CD –диски рассчитаны на использование
инфракрасного лазера с длиной волны 780 нм и имеют
информационную емкость 700 Мбайт.
Оптические DVD­диски рассчитаны на использование
красного лазера с длиной волны 650 нм и имеют
информационную емкость от 4,7 Гбайт (однослойные
DVD­диски ) до 8,5 Гбайт (двухслойные DVD­диски).
Оптические диски HD DVD и Blu­Ray рассчитаны на
использование синего лазера с длиной волны 405 нм и
имеют информационную емкость в 3­5 раз
превосходящую информационную емкость DVD­дисков.
CD­ и DVD­диски
Однослойные и
двухслойные DVD­диски
HD DVD

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Атомно­силовой микроскоп для
практических занятий по
нанотехнологиям

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Современный металлографический микроскоп Альтами МЕТ 3М

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

микроскопа
(СЗМ),
визуализировать,
диагностировать
Достижения современной науки и технологии во многом
связаны с появлением в арсенале экспериментаторов
принципиально нового инструмента
сканирующего
­
предоставившего
зондового
возможность
и
модифицировать вещество
с нанометровым уровнем
пространственного разрешения.
еще недавно казавшиеся
Именно
фантастическими прямые эксперименты с отдельными
молекулами и атомами стали вполне реальными и даже
обычными не только для фундаментальных исследований,
но и для прикладных разработок в нанотехиологин.
В
спектроскопии
приближенным
твердотельным
исследования на некоторое малое расстояние.
сканирующей
лежит
зондом,
взаимодействие
к
благодаря СЗМ
основе
зондовой микроскопии
и
между
объекту

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Образно выражаясь, можно сказать, что, если в оптическом
или электронном микроскопах образец осматривается, то в
СЗМ ­ощупывается и обстукивается.
Прототипом СЗМ в определенном смысле является
стетоскоп, с помощью которого еще в позапрошлом веке
врач прослушивал больного.
Действительно, размер стетоскопа (зонда) и расстояние от
него до объекта исследования много меньше длины волны
детектируемых акустических колебаний, именно поэтому,
сканируя стетоскопом, удается определить положение
сердца в грудной клетке с пространственным разрешением
во много раз превосходящим длину волны звука.

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Атомно­силовой микроскоп (АСМ) был изобретён в 1986 году Гердом
Биннигом, Кэлвином Куэйтом и Кристофером Гербером. В основе
работы АСМ лежит силовое взаимодействие между зондом и
поверхностью, для регистрации которого используются специальные
зондовые датчики, представляющие собой упругую консоль с острым
зондом на конце. Сила, действующая на зонд со стороны поверхности,
приводит к изгибу консоли. Регистрируя величину изгиба, можно
контролировать силу взаимодействия зонда с поверхностью.

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Получение АСМ изображений рельефа поверхности связано с
регистрацией малых изгибов упругой консоли зондового датчика. В
атомно­силовой микроскопии для этой цели широко используются
оптические методы.
Оптическая система АСМ юстируется таким образом, чтобы излучение
полупроводникового лазера фокусировалось на консоли зондового
датчика, а отраженный пучок попадал в центр фоточувствительной
области фотоприемника. В качестве позиционно — чувствительных
фотоприемников применяются четырехсекционные полупроводниковые
фотодиоды.

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

nanoeducator_2_p.pdf

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Презентация Изучение структуры поверхности кристаллов с помощью СЗМ НАНОЭДЮКАТОР II"

Прямая ссылка на скачивание файла: Скачать файл